耐壓試驗可分為交流耐壓試驗和直流耐壓試驗，交流耐壓試驗又可分為工頻、變頻和 0.1Hz 超低頻介損測試技術，其中 0.1Hz 超低頻介損技術是最新技術，是當前國際電工委員會推薦的技術。我公司新一代本系列超低頻介損高壓發(fā)生器是采用最新美國技術自主開發(fā)的核心產品，采用 7 寸觸模屏、最新 ARM7 單片機、高速 AD 采集電路，并配有后臺管理軟件。

☆ 技術先進：采用數(shù)字變頻技術，微電腦控制，升壓、降壓、測量、保護等測試過程全自動化。
☆ 設備操作：接線簡單，使用便捷。
☆ 保護全面：多重保護（過壓保護、高低壓側過流保護），動作迅速（動作時間≤10ms）,儀器安全可靠。
☆ 安全可靠：控制器和高壓發(fā)生器低壓連接，光電控制，使用安全可靠。
☆ 采用了高低壓閉環(huán)負反饋控制電路，輸出無容升效應。
☆ 配置齊全：電容觸摸屏，液晶漢字顯示，自動存儲，自動打印。
☆ 測試范圍大：0.1Hz、0.05Hz 、0.02Hz多頻率選擇，測試范圍大。
☆ 中英文切換和USB功能

1.電壓（峰值）0-30kv， 靈敏度：0.1kV， 精確度：1 %
2.波形：超低頻正弦波、直流電壓，電壓正，負峰值誤差：≤3％，電壓波形失真度：≤1％
3.頻率范圍：0.1 Hz 0.05 Hz 0.02 Hz 負載范圍（超低頻測試）：10nF–10μF
4.電流：測量范圍：0–70 mA ，靈敏度：1μA ，精確度：1 %
5.介損：
超低頻正弦波電壓范圍：1–30 kVrms
負載范圍：50nF–5μF
分辨率：不低于1x10-6
精確度：不低于1x10-3
測量范圍：1x10-3–21000x10-3
介損測量頻率：0.1Hz
電容量范圍：50nF-5μF
電阻值范圍：30MΩ-10GΩ
體積：48cm*28cm*58cm
重量：45kg
6.使用條件：戶內、戶外；溫度：-10℃～+40℃；濕度：≤85％RH
7.電源：頻率50Hz,60hz，電壓100v -260V±5%。
8.usb通信口。
9.使用條件：戶內、戶外；溫度：-10℃～+40℃；濕度：≤85％RH
10.電源保險管：參見表 3
11.電源：電壓 220V±5%，50±5Hz